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同軸白光測量系統(tǒng)
同軸白光測量系統(tǒng)
VAS FOR INSPEC
Vertical Axial Scanner
1. MICRO.VU影像測量儀可以結合使用垂直同軸白光激光系統(tǒng)
2. 可測量范圍從500μm-10000um，工作距離12.7 mm-71.5mm
3. 支持在MICRO.VU VERTEX261,341,342,Excel 511, 701, 901, 1301, 1701和2500這幾個型號上配合影像測量使用
4. 小光斑尺寸，適合測量玻璃，拋光金屬，陶瓷和涂層等材質的產(chǎn)品
技術規(guī)格
VAS500 | VAS4000 | VAS10000 | |
測量范圍[μm] | 500μm | 4000μm | 10000μm |
工作距離[mm] | 12.7mm | 37.5 | 71.5 |
光斑 [μm] | 5μm | 8um | 16um |
較大傾斜角度 | 45° | 20° | 14° |
特色
1. 非接觸式測量，無磨損，抗干擾
2. 距離和形貌
3. 寬泛的厚度測量范圍, 適用于所有表面
4. 強勁的測量能力,自動光量控制
0512-6758-1562/
chinamicrovu_2011@komes.net
蘇州市相城區(qū)經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)澄陽街道蠡塘河路168號星湖花海2號樓2樓207-1室
